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非金属物体厚度测量电路的设计与分析
引用本文:刘艳妮,李兴富.非金属物体厚度测量电路的设计与分析[J].桂林航天工业高等专科学校学报,2009,14(3):306-308.
作者姓名:刘艳妮  李兴富
作者单位:桂林航天工业高等专科学校,电子工程系,广西,桂林,541004
摘    要:论文分析了电容检测技术在非金属厚度检测中的应用,设计了电容测量电路对电容传感元件输出的电容值进行测量,并详细介绍其电路结构与功能.利用该测量系统对非金属的厚度进行测量,方法可行,为现有的非金属厚度检测增添了一种新方法.

关 键 词:电容检测技术  非金属厚度  测量电路

Design and Analysis on Circuitry of Non-metallic Object Thickness Measurement
LIU Yan-ni,LI Xing-fu.Design and Analysis on Circuitry of Non-metallic Object Thickness Measurement[J].Journal of Guilin College of Areospace Technology,2009,14(3):306-308.
Authors:LIU Yan-ni  LI Xing-fu
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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