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热变形维卡测试仪的抗干扰措施
引用本文:刘月红,邹自明.热变形维卡测试仪的抗干扰措施[J].桂林航天工业高等专科学校学报,2007,12(2):11-13.
作者姓名:刘月红  邹自明
作者单位:桂林工学院电子与计算机系,广西,桂林,541004
摘    要:文章针对热变形维卡测试仪遭受到的干扰,选用了有利于简化硬件设计结构的PSOC作为应用系统核心控件,从软件和硬件两个方面对单片机系统的抗干扰采取了相应的处理措施,保证了系统能够在恶劣的环境下稳定、精确地运行。

关 键 词:可编程片上系统(PSOC)  抗干扰  通道隔离  看门狗  软件陷阱
文章编号:1009-1033(2007)02-0011-03

Anti-interference Technologies of the HDT/Vicat Tester
Liu yue-hong,Zou zi-ming.Anti-interference Technologies of the HDT/Vicat Tester[J].Journal of Guilin College of Areospace Technology,2007,12(2):11-13.
Authors:Liu yue-hong  Zou zi-ming
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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