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未来机载雷达可靠性和寿命周期成本的研究
引用本文:G B Fisher W Gruner B Coudray 任万霞.未来机载雷达可靠性和寿命周期成本的研究[J].空载雷达,2006(2):74-78.
作者姓名:G  B  Fisher  W  Gruner  B  Coudray  任万霞
摘    要:目前还没有对未来机载雷达系统的可靠性和维修性的要求充分量化,但已经认识到需要对现有可靠性和可用性的标准进行较大的改进。

关 键 词:机载雷达  有源电子扫描阵列(AESA)  可靠性  寿命周期成本  备用冗余
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