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基于Markov链的FSM容软错误设计
作者姓名:曹源  梁华国  黄正峰  陈秀美  吴珍妮
作者单位:1.合肥工业大学计算机与信息学院,合肥 230009; 2.合肥工业大学电子科学与应用物理学院,合肥 230009
基金项目:国家自然科学基金资助项目,博士点基金资助项目,国家自然科学基金重点资助项目,安徽省海外高层次人才项目
摘    要:随着深亚微米工艺的广泛应用,持续攀升的软错误率对宇航设备的电路可靠性造成了极大影响。针对现有冗余防护技术面积开销大的不足,将概率统计的思想运用到有限状态机(FSM)的软容错设计上,提出了选择部分状态冗余的容错方法。在Markov链模型的基础上,计算出各状态概率,从而为状态冗余提供依据。与未经选择状态冗余的电路相比,以平均增加14.9%的面积开销为代价,这种电路可屏蔽87.6%的时序逻辑单翻转(SEU)。


关 键 词:Markov链模型  状态概率  软错误  状态冗余  
收稿时间:2009-09-18
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