| 基于Markov链的FSM容软错误设计 |
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| 引用本文： | 曹源,梁华国,黄正峰,陈秀美,吴珍妮. 基于Markov链的FSM容软错误设计[J]. 宇航学报, 2011, 32(3): 665-670. DOI: 10.3873/j.issn.1000-1328.2011.03.032 |
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| 作者姓名： | 曹源 梁华国 黄正峰 陈秀美 吴珍妮 |
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| 作者单位： | 1.合肥工业大学计算机与信息学院，合肥 230009； 2.合肥工业大学电子科学与应用物理学院，合肥 230009 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目，博士点基金资助项目，国家自然科学基金重点资助项目，安徽省海外高层次人才项目 |
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| 摘 要： | 随着深亚微米工艺的广泛应用，持续攀升的软错误率对宇航设备的电路可靠性造成了极大影响。针对现有冗余防护技术面积开销大的不足，将概率统计的思想运用到有限状态机（FSM）的软容错设计上，提出了选择部分状态冗余的容错方法。在Markov链模型的基础上,计算出各状态概率，从而为状态冗余提供依据。与未经选择状态冗余的电路相比，以平均增加14.9%的面积开销为代价，这种电路可屏蔽87.6%的时序逻辑单翻转（SEU）。
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| 关 键 词： | Markov链模型 状态概率 软错误 状态冗余 |
| 收稿时间： | 2009-09-18 |
FSM Soft Fault-Tolerant Design Based on Markov Chain Model |
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| CAO Yuan,LIANG Hua-guo,HUANG Zheng-feng,CHEN Xiu-mei,WU Zhen-ni. FSM Soft Fault-Tolerant Design Based on Markov Chain Model[J]. Journal of Astronautics, 2011, 32(3): 665-670. DOI: 10.3873/j.issn.1000-1328.2011.03.032 |
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| Authors: | CAO Yuan LIANG Hua-guo HUANG Zheng-feng CHEN Xiu-mei WU Zhen-ni |
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| Affiliation: | 1. School of Computer and Information, Hefei University of Technology, Hefei 230009, China； 2. School of Electric Science and Applied Physics, Hefei University of Technology, Hefei 230009, China |
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| Abstract: | Since deep submicron technology is widely used in microprocessors,increasing soft error rate greatly affects the reliability of controllers.In this paper,the idea of statistical probability is applied to soft fault-tolerant design for finite state machine(FSM).Based on a Markov chain model,a redundancy state selection method is proposed.Compared with the original circuit,this design can mask 87.6% single event upset(SEV) at the cast of additional 14.9% area overhead in average. |
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| Keywords: | Markov chain model State probability Soft fault State redundancy |
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