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| 航天电子产品可靠性增长试验输入参数分析与处理 | |
| 引用本文： | 邵进,梅洪,高洁.航天电子产品可靠性增长试验输入参数分析与处理[J].质量与可靠性,2014(4). |
| 作者姓名： | 邵进 梅洪 高洁 |
| 作者单位： | 北京航天自动控制研究所;91917部队; |
| 摘 要： | 介绍了航天电子产品可靠性增长试验在工程应用中遇到的问题。通过分析电子产品可靠性增长试验中相关输入参数对可靠性增长试验的时间参数的影响,提出了航天电子产品可靠性增长试验在航天型号应用中处理的关键点。 |
| 关 键 词： | 航天电子产品 可靠性增长试验 输入参数 试验时间 |
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