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微电子封装中金丝球焊工艺质量预测模型设计与研究
引用本文:关晓丹,孙燕,赵鹏.微电子封装中金丝球焊工艺质量预测模型设计与研究[J].北华航天工业学院学报,2018(1).
作者姓名:关晓丹  孙燕  赵鹏
作者单位:北华航天工业学院电子与控制工程学院;
摘    要:微电子封装过程中焊接参数的选择直接影响金丝球焊接的质量,本文通过正交试验的方法将不同的参数值进行组合、试验并通过方差分析法从诸多参数中确定影响键合质量的主要参数。针对金丝球焊质量与其影响参数之间复杂的非线性耦合关系的特点,本文建立了BP神经网络,确定神经网络的各结构参数,建立了引线键合模型。通过对模型预测结果进行验证,表明所建模型具有较高的精度,能够准确地反映焊接质量综合指标的变化趋势。

关 键 词:微组装  金丝球焊  正交试验  剪切力试验  神经网络

Design on Quality Prediction Model of Gold Wire Bonding Process in Microelectronics Packaging
Abstract:
Keywords:
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