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| 基于可靠性指标的测试系统校准周期优化 | |
| 作者姓名： | 韩旭 祖先锋 蔡迎波 |
| 作者单位： | 南京理工大学自动化学院,南京,210094;中国人民解放军空军第一航空学院,信阳,464000;中国人民解放军92941部队,葫芦岛,125001 |
| 摘 要： | 通过对测试系统校准周期的直接反应法(SRM)和威布尔(Weibull)可靠性模型法的分析、改进,以及对校准过程中误判率的分析测算,解决了测试系统检定决策的风险问题.首先介绍了测试系统可靠性指标的相关计量技术规范,然后通过对常用的校准周期确定方法的介绍与分析,进一步给出了测量可靠性观测值的可靠性概率函数描述方法,并利用主元分析法来综合评价不同测量参数的影响,修正了最佳校准周期的计算.通过对自动测试系统DMM(数字万用表)测量通道的检定,表明这些优化措施是可行的. |
| 关 键 词： | 校准周期 可靠性指标 威布尔模型 误判率 主元分析 |
| 收稿时间： | 2009-09-21 |
| 修稿时间： | 2010-05-19 |
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