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| 航天元器件关键工艺的统计过程控制方法 | |
| 引用本文： | 贾 彬,段 超. 航天元器件关键工艺的统计过程控制方法[J]. 航天器环境工程, 2012, 29(2): 227-230 |
| 作者姓名： | 贾 彬 段 超 |
| 作者单位： | 1.中国空间技术研究院 宇航物资保障事业部 |
| 摘 要： | 文章以统计过程控制（SPC）中的均值—标准差（X—R）控制图理论方法为基础，以宇航元器件关键工序中的集成电路键合拉力强度为研究对象，提出宇航元器件关键工序进行SPC的必要性，并提出以（X—R）控制图作为质量工具对宇航元器件关键工艺进行质量监控的方法，计算出该关键工艺的过程能力指数。 |
| 关 键 词： | 统计过程控制；元器件工艺；二方审查；数据监控 |
| 收稿时间： | 2011-06-28 |
| 修稿时间： | 2012-03-19 |
Statistical process control of key processes for space-level component |
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| Jia Bin and Duan Chao. Statistical process control of key processes for space-level component[J]. Spacecraft Environment Engineering, 2012, 29(2): 227-230 | |
| Authors: | Jia Bin and Duan Chao |
| Affiliation: | 1.China Aerospace Components Engineering Center, China Academy of Space Technology |
| Abstract: | Based on the average value-standard deviation（-R） control chart theory of the statistical process control（SPC）,the bond strength of the integrated circuit,as an important parameter in processing space-level components and parts,is investigated.The importance of the SPC in processing space-level components and parts is discussed,with the（-R） control chart as a tool for quality control.The process power index in the above key process is calculated. |
| Keywords: | statistical process control component processing check from a second party data monitoring |
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