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验证BIT测试性指标的总线级故障注入系统及其设计
引用本文:刘丹丹,王晓峰.验证BIT测试性指标的总线级故障注入系统及其设计[J].航天器环境工程,2008,25(5):479-484.
作者姓名:刘丹丹  王晓峰
作者单位:1. 中国航空综合环境航空科技重点实验室,北京,100028
2. 北京航空航天大学,工程系统工程系,北京,100083
摘    要:文章详细分析了机内测试(BIT,Built-in test)系统的测试性指标验证和评价的重要性与实用性,并着重介绍了用于BIT测试性指标验证的总线级故障注入系统及其硬件、软件设计以及该系统的工作流程,并通过时序分析证明了该系统进行实时故障注入的可实现性和可操作性,最后给出了该系统进行故障注入试验后的软硬件试验结果。

关 键 词:测试性  机内测试  总线级  故障注入  故障诊断
收稿时间:2008/5/20 0:00:00
修稿时间:2008/5/22 0:00:00

A bus-level fault injection system for BIT's testability index validation and its design
Liu Dandan and Wang Xiaofeng.A bus-level fault injection system for BIT''s testability index validation and its design[J].Spacecraft Environment Engineering,2008,25(5):479-484.
Authors:Liu Dandan and Wang Xiaofeng
Institution:Aero Combined Environment Laboratory;Department of Systems Engineering, Beihang University
Abstract:
Keywords:testability  built-in test  bus-level  fault injection  fault diagnosis
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