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Micro-X概念验证机热防护系统研究进展
作者姓名:张泰华%孟宪红
作者单位:北京航空航天大学,北京,100083
摘    要:简述了国外可重复使用运载器的研究现状及发展趋势,详细介绍了美国下一代可重复使用运载器Micro—X概念验证机的热防护材料及设计。

关 键 词:可重复使用运载器  Micro-X概念验证机  热防护系统
收稿时间:2005-12-17
修稿时间:2005-12-17
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