人造石英晶体不同生长区的热致发光

许多采用石英晶体的电子器件都工作在容易受到辐照的环境中。因此,研究辐照对石英晶体的影响是很重要的。我们在本文中指出,热致发光技术可以作为研究这个问题的一种好方法。我们将介绍在15—300°K温度范围内测量到的热致发光。已经分别获得Y切石英片各生长区(即+X、-X、+Z、-Z)的测量结果。该石英片是从未经扫描处理的电子级人造石英Y切生长棒上切割下来的。在这项工作中,我们首次发现在72°K、80°K、87°K和104°K时有很清晰的辉光峰。我们认为,在室温下经过X射线(50千伏、17毫安的白辐射)予辐照之后,仅仅出现在+X生长区(即135°K、162°K、178°K)的辉光峰可能与Al_e_+]°中心有关。在+Z区样品中高于104°K的辉光峰完全不同于在+X区样品中看到的情况。在这个温度范围的所有辉光峰都随着室温下予辐照剂量的增大而逐渐减弱。从本文介绍的测量结果可以看出,一个或多个辉光峰相应于各个生长区存在的某种缺陷,而且它们的热致发光强度比例于石英中所含缺陷的密度。