| 基于傅里叶光谱仪在高温环境下材料光谱发射率测试技术 |
| |
| 引用本文： | 何小瓦%戴景民%辛春锁%王宗伟%徐辉.基于傅里叶光谱仪在高温环境下材料光谱发射率测试技术[J].宇航材料工艺,2007,37(5):13-17. |
| |
| 作者姓名： | 何小瓦%戴景民%辛春锁%王宗伟%徐辉 |
| |
| 作者单位： | 1. 航天材料及工艺研究所,北京,100076
2. 哈尔滨工业大学自动检测与过程控制系统研究所,哈尔滨,150001 |
| |
| 摘 要： | 在对傅里叶红外光谱仪与传统的色散型光谱分析仪进行比较的基础上,综述了基于该装置的高温红外光谱发射率测量技术的国内外发展现状。在详细介绍各具特色的装置结构、工作原理、测量温度范围和测量水平的同时,评述了这项技术的特点和局限性,并对其未来发展趋势进行了展望。
|
| 关 键 词： | 光谱发射率 发射率测量 高温环境 |
| 修稿时间： | 2007-06-13 |
Measurement of Spectral Emissivity Based on FT- IR |
| |
| He Xiaowa,Dai Jingmin,Xin Chunsuo,Wang Zongwei,Xu Hui.Measurement of Spectral Emissivity Based on FT- IR[J].Aerospace Materials & Technology,2007,37(5):13-17. |
| |
| Authors: | He Xiaowa Dai Jingmin Xin Chunsuo Wang Zongwei Xu Hui |
| |
| Institution: | 1. Aerospace Research Institute of Materials and Processing Technology, Beijing 100076; 2. Harbin Institute of Technology, Harbin 150001 |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | FT-IR |
| 本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《宇航材料工艺》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《宇航材料工艺》下载免费的PDF全文 |
|
