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| 应用于实时系统中存储器故障测试的一种新方法 | |
| 引用本文： | 杨孟飞,孙增圻,龚健.应用于实时系统中存储器故障测试的一种新方法[J].中国空间科学技术,2005,25(6):26-29. |
| 作者姓名： | 杨孟飞 孙增圻 龚健 |
| 作者单位： | 1. 清华大学,北京,100084;北京控制工程研究所,北京,100080 2. 清华大学,北京,100084 3. 北京控制工程研究所,北京,100080 |
| 摘 要： | 针对实时存储器系统的常见故障类型提出了一种新的存储器测试方法，其最大特点是在测试过程中不使用缓冲区，从而节省了系统资源，增加了测试覆盖率；同时证明了该存储器测试方法的正确性。 |
| 关 键 词： | 存储器 故障检测 方法 |
| 收稿时间： | 2004-12-27 |
| 修稿时间： | 2004-12-272005-06-29 |
A Method for Memory Fault Test in Real-time Systems |
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| Yang Mengfei,Sun Zengqi,Gong Jian.A Method for Memory Fault Test in Real-time Systems[J].Chinese Space Science and Technology,2005,25(6):26-29. | |
| Authors: | Yang Mengfei Sun Zengqi Gong Jian |
| Institution: | 1 Tsinghua University, Beijing 100084;2 Beijing Institute of Control Engineering, Beijing 100080 |
| Abstract: | A new memory test method according to fault models in real-time memory systems is presented. The main feature of this test method is that buffers are not used in the process of testing, so that system resources are saved and test coverage rate is improved. The correctness of this memory test method is also proved. |
| Keywords: | Memory device Fault detection Method |
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