同轴阻抗的扫频精密测量

用同轴测量线测量阻抗已有几十年的历史。到目前为止,优质的同轴测量线剩余,驻波比可达1.01(在10GHz下),测量精度可达1％。但测量线有许多明显的缺点:只能窄带调谐,测量小驻波精度低,系统需调配,加工困难及操作麻烦等。六十年代出现了反射计,它在一定程度上克服了测量线的缺点,但仍有许多不足之处。如高方向性宽频带定向耦合器难于实现。此外,需对系统调配、测小驻波困难、加工困难等缺点依然存在。七十年代后期,美国Willtron公司打破常规,把低频电桥成功地应用于微波测量,而制成了一种反射电桥。这种电桥实现了高方向性、宽频带扫频测量,其频率范围可复盖100KHz至18GHz,测量小反射能力及测量精度都有了较大提高。本文拟介绍这一技术的原理,并提出若干改进测量精度的方法。