基于FPGA的硬件ECC校验的设计与实现

随着存储技术的高速发展,以NAND FLASH为存储介质的存储系统具有存储密度高、容量大、体积小、功耗低和成本低等优点,因此NAND FLASH在不同的领域都得到了广泛的应用。然而,由于NAND FLASH本身的工艺局限性,其数据在传输与存储过程中可能发生"位翻转"的现象,故为了保证存储数据的可靠性,NAND FLASH存储系统在使用过程中需要伴随一定的检错与纠错机制。在对常用的NAND FLASH存储系统校验算法进行简要介绍的基础上,结合NAND FLASH的本身特性,确定在系统中使用ECC校验。对ECC校验的原理及FPGA设计实现进行了阐述,并对设计实现进行了功能仿真和试验验证。