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BIT和ATE组合测试技术及其应用
引用本文:姜静,张小平,孙校书.BIT和ATE组合测试技术及其应用[J].海军航空工程学院学报,2006,21(3):383-385.
作者姓名:姜静  张小平  孙校书
作者单位:1. 海军航空工程学院控制工程系,山东烟台,264001
2. 海军驻太原地区航空军事代表室,山西太原,030006
3. 海军航空工程学院科研部,山东烟台,264001
摘    要:详细介绍了BIT和ATE组合测试技术及其在机载电子设备测试与故障诊断的具体应用。应用表明BIT和ATE组合测试技术可有效提高设备的测试性。

关 键 词:机内测试  自动测试设备  组合测试  故障诊断
修稿时间:2005年12月10

BIT and ATE combined test technology and its application
JIANG Jing,ZHANG Xiaoping and SUN Xiaoshu.BIT and ATE combined test technology and its application[J].Journal of Naval Aeronautical Engineering Institute,2006,21(3):383-385.
Authors:JIANG Jing  ZHANG Xiaoping and SUN Xiaoshu
Institution:Department of Control Engineering,NAEI,Yantai,Shandong,264001,Aeronautical Military Representatives Office of Navy in Taiyuan,Taiyuan,Shanxi,030006 and Department of Scientific Research,NAEI,Yantai,Shandong,264001
Abstract:BIT and ATE combined test technology and its application in the fault diagnosis of airborne electronic equipment is introduced in detail in this paper. It is proved that BIT and ATE combined test technology can improve the testability of equipments effectively.
Keywords:built-in test  auto test equipment  combined test  fault diagnosis  
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