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微晶玻璃低温线膨胀系数测试
引用本文:
杨林华.微晶玻璃低温线膨胀系数测试[J].航天器环境工程,1997(1).
作者姓名:
杨林华
作者单位:
北京卫星环境工程研究所
摘 要:
在多光谱地面定标设备中,光学系统为满足红外波段定标需要消除杂散光,试验中光学镜的温度应降到~170℃以下。由于温差很大,在光学镜及其装卡机构设计中,必须考虑材料的线膨胀因素。为掌握光学镜低温下的变形情况,同时也为镜框的设计提供设计依据,因此设计前采用了简单易行的测试方法,即用低温应变片测试所用光学材料微晶玻璃的低温线膨胀系数。
关 键 词:
低温测量
应变测量
线膨胀系数测量
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