潮湿颗粒电解质电化学机械抛光铜工件的接触特性研究 |
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引用本文: | 董志刚,程吉瑞,高尚,康仁科.潮湿颗粒电解质电化学机械抛光铜工件的接触特性研究[J].航空制造技术,2023(13):38-45+72. |
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作者姓名: | 董志刚 程吉瑞 高尚 康仁科 |
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作者单位: | 大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室 |
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基金项目: | 国家自然科学基金面上项目(51975095);;辽宁省“兴辽英才计划”杰出人才项目(XLYC2001004); |
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摘 要: | 潮湿颗粒电解质电化学机械抛光(Moist particle electrolyte electrochemical mechanical polishing,MPE-ECMP)作为新兴技术,仍存在难以获得高表面质量的问题。为解决该问题,深入研究电解质颗粒与工件的接触特性,采用离散元仿真软件Altair EDEM探究了工件倾斜角、转速对接触数量、接触力的影响规律,并进行MPE-ECMP工艺试验。研究结果表明,倾斜角为30°时,单位时间内电解质颗粒与工件的接触数量最多,且切向力最大,为3.38mN;在90°时,切向力最小,为1.21 mN。随着工件转速增大,单位时间内电解质颗粒与工件的接触数量变少,电解质颗粒与工件接触的法向力、切向力呈增大趋势。当抛光电位(vs. Hg/Hg2SO4)为0.8 V,工件倾斜角为30°,抛光1h,表面粗糙度从Sa433.51 nm降低到Sa22.43 nm,降低了94.8%。结果证明了工件倾斜角、转速的调整可有效提高MPE-ECMP的抛光精度,表面粗糙度的降低是由接触数量...
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关 键 词: | 潮湿颗粒电解质电化学机械抛光(MPE-ECMP) 离散元法 流场轨迹 接触特性 表面质量 |
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