电子束选区熔化过程中吹粉机理及因素分析综述 |
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引用本文: | 石毅磊,王壮,桑兴华,杨波,许海鹰,杨光,巩水利,齐铂金.电子束选区熔化过程中吹粉机理及因素分析综述[J].航空制造技术,2023(10):50-59. |
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作者姓名: | 石毅磊 王壮 桑兴华 杨波 许海鹰 杨光 巩水利 齐铂金 |
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作者单位: | 1. 中国航空制造技术研究院高能束流发生器实验室;2. 北京航空航天大学;3. 南京理工大学;4. 中国航空制造技术研究院高能束流加工技术实验室 |
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基金项目: | 广东省重点领域研发计划(2018B090904004);;国防基础科研计划(JCKY2017205A002);;国家自然科学基金(52075024); |
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摘 要: | 电子束选区熔化(SEBM)过程中,粉末颗粒在电子束作用下带负电引起库仑相互作用,易造成粉末散射,发生吹粉现象。此现象会导致电子枪放电、束流不稳定、粉末不均匀铺展等问题,继而造成工艺不稳定而加工停止。为扩大SEBM工艺适用范围,以电子束与粉末相互作用为基础,从粉末特性和工艺参数两方面分析了吹粉的形成机理及影响因素,根据降低粉末间静电力的方式总结了预防吹粉的措施,最后阐述了吹粉问题在SEBM基础研究方面的发展方向,以期为SEBM长期工作稳定性、可靠性的提高及质量提升提供参考。
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关 键 词: | 电子束选区熔化(SEBM) 吹粉机理 氧化物覆盖层 粉末状态 工艺参数 |
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