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带电粒子在材料中的剂量深度分布计算
引用本文:丁义刚,冯伟泉.带电粒子在材料中的剂量深度分布计算[J].航天器环境工程,2005,22(5):283-288.
作者姓名:丁义刚  冯伟泉
作者单位:1. 国防科技大学,航天与材料学院,长沙410073
2. 北京卫星环境工程研究所,北京100094
摘    要:航天器在轨道运行期间,会受到各种带电粒子的作用,其能量沉积在表面材料中,对表面材料的性能有较大的损伤。文章介绍了剂量深度计算程序,利用SRIM及ITS软件的计算结果,计算出了带电粒子在材料中的剂量深度分布,并对空间轨道实际环境下材料中的剂量深度分布进行了计算。利用这一程序,在“东四”热控涂层试验中进行了剂量深度分布拟合,计算了多种能量电子拟合试验下荆量深度分布与空间实际环境的比较,得出了相关的试验参数。

关 键 词:带电粒子  吸收剂量
文章编号:1673-1379(2005)05-0283-06
收稿时间:2004/8/20 0:00:00
修稿时间:2004年8月20日

STUDY ON DOSE-DEPTH PROFILE CALCULATION OF CHARGED PARTICLES IN THE MATERIALS
DING Yi-gang,FENG Wei-quan.STUDY ON DOSE-DEPTH PROFILE CALCULATION OF CHARGED PARTICLES IN THE MATERIALS[J].Spacecraft Environment Engineering,2005,22(5):283-288.
Authors:DING Yi-gang  FENG Wei-quan
Abstract:The spacecraft will be affected by the charged particles when it is in the orbit.The properties degradation of spacecraft surface materials is caused by the charged particles which energy deposits in the materials.In this paper,a dose-depth profile calculation program is introduced.By using this program and the calculation datas processed by the softwares of SKIM and ITS 3.0,the dose-depth profile of charged particles in the materials is calculated and compared with it in space orbit environment.In the test of the thermal control coatings,a dose-depth profile fit is performed to acquire the test parameters.
Keywords:charged particles  absorbed dose
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