| TiAl/TiAl、TiAl/TC4真空电子束焊接头组织及缺陷分析 |
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| 引用本文： | 张秉刚,冯吉才,何景山.TiAl/TiAl、TiAl/TC4真空电子束焊接头组织及缺陷分析[J].航空制造技术,2004(Z1):141-143. |
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| 作者姓名： | 张秉刚 冯吉才 何景山 |
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| 作者单位： | 哈尔滨工业大学现代焊接生产技术国家重点实验室 |
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| 摘 要： | 采用电子束焊接方法对航空航天用的新型结构材料TiAl合金的自体及与TC4的异体对接接头进行了焊接试验,并利用光学金相和元素能谱分析方法(EDS)对TiAl/TiAl及TiAl/TC4电子束焊接接头的组织结构和连接状况进行了研究.研究结果表明TiAl/TiAl的焊缝组织为铸态TiAl柱状晶组织,焊缝内部及熔合线热影响区附近有大量冷裂纹产生,接头强度恶化;过高的焊接速度及粗晶的TiAl母材是导致TiAl/TiAl接头中产生裂纹的主要原因;TiAl/TC4焊缝为近Ti3Al的支晶混合组织,因TiAl与TiAl相比具有较好的延塑性,从而使TiAl/TC4焊缝的抗裂性能提高,接头中未见有冷裂纹出现,这说明TiAl/TC4接头拥有比TiAl/TiAl接头更好的电子束焊接性.
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| 关 键 词： | TiAl 电子束焊接 组织 裂纹 |
Analysis of the Microstructure and Defects of Electron Beam Welding Joint of TiAl/TiAl、TiAl/TC4 |
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| Zhang Binggang,Feng Jicai,He Jingshan.Analysis of the Microstructure and Defects of Electron Beam Welding Joint of TiAl/TiAl、TiAl/TC4[J].Aeronautical Manufacturing Technology,2004(Z1):141-143. |
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| Authors: | Zhang Binggang Feng Jicai He Jingshan |
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