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| MIL-STD-750D译文新版推出 | |
| 引用本文： | 崔凌云.MIL-STD-750D译文新版推出[J].航空标准化与质量,2003(6). |
| 作者姓名： | 崔凌云 |
| 作者单位： | 三○一研究所 |
| 摘 要： | 美军标(MIL-STD-750)《半导体器件试验方法》是涉及半导体器件可靠性的重要标准。该标准中的试验方法众多,涉及内容全面、细致。MIL-STD-750经多次修改,目前已推出MIL-STD-750D译文新版。MIL-STD-750D与MIL-STD-750C相比,增加新试验方法40项,修改试验方法135项次。由于大量增加了新的试验方法,从而使标准内容更先进,充分反映了半导体器件设计、生产和可靠性工作的新成果、新方向,使本标准更具指导意义,也更具有参考价值。MIL-STD-750D译本可供从事半导体器件(包括分立器件和微电子器件)的筛选、鉴定和质量一致性检验、DPA… |
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