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| 新颖测试手段——电子束微探针 | |
| 引用本文： | 蒋庆全.新颖测试手段——电子束微探针[J].航空计测技术,1996,16(3):42-42,46. |
| 作者姓名： | 蒋庆全 |
| 作者单位： | 南京电子工程研究所!南京市，210014 |
| 摘 要： | 在分析测试芯片中，微探针已使用了ZO余年之久。但近几年来，世界上90％以上的先进半导体公司都配备了电子束微探针装置。预计在未来数年内，电子束技术在半导体行业中将会得到广泛应用。随着芯片几何尺寸的不断缩小，传统的机械式微探针已显得愈益不适应。其原因之一是微探针难以与亚微米线宽的金属层引线可靠接触。另一原因是，芯片中的节点电容已低至5～10fF，微探针产生的信号衰减已超出允许的范围。电子束微探针不存在上述问题。与普通的电子扫描显微镜一样，电子束微探针是用聚焦得颇细的电子来去扫描集成电路的表面，然后采集芯片… |
| 关 键 词： | 电子束 微探针 微电子 芯片测试 |
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