| 一种恒电长度干涉仪分析的新方法 |
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| 引用本文： | 陈俊华,黄柳桃.一种恒电长度干涉仪分析的新方法[J].航天电子对抗,2007,23(4):44-46. |
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| 作者姓名： | 陈俊华 黄柳桃 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第51研究所,上海,201802 |
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| 摘 要： | 对数周期天线的相位中心随频率呈线性变化,用2个对数周期天线可以构成具有恒电特性的干涉仪天线阵,在工程应用中,天线相位中心较大的测试误差会导致天线阵调试困难.通过对恒电长度干涉仪的分析,提出了利用相位扫频测试对天线阵进行调试分析的方法,避免了繁杂的相位中心测试,简化了天线阵的调试过程,测试数据可直接用于系统校正.
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| 关 键 词： | 恒电长度干涉仪 对数周期天线 相位扫频测试 长度 干涉仪 调试分析 方法 interferometer length electrical invariant 系统校正 测试数据 调试过程 简化 繁杂 扫频测试 天线相位中心 利用 测试误差 工程应用 天线阵 电特性 |
| 修稿时间： | 2007年3月21日 |
A new analysis method for invariant electrical length interferometer |
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| Chen Junhua,Huang liutao.A new analysis method for invariant electrical length interferometer[J].Aerospace Electronic Warfare,2007,23(4):44-46. |
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| Authors: | Chen Junhua Huang liutao |
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