屏蔽罩中场强的测量

屏蔽室测量(30～200MHz) 1 引言 本文描述了如何有选择地放置辐射吸收材料(RAM),这种材料能够大大减小无衬屏蔽室中产生的电磁谐振的Q值。在屏蔽室中完成的EMC(电磁兼容性)性能试验结果与在其他室中进行的同样检测通常相差20dB或更多。这些结果由室谐振、天线位置和室内的EUT(被检测设备)决定。已对这些谐振做了详细研究,提到的衰减方法使发射测量同在开场区所做的、在30～200MHz频域内的一致性达到5dB以内。