航天用SRAM型FPGA抗单粒子翻转设计 |
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引用本文: | 马 寅. 航天用SRAM型FPGA抗单粒子翻转设计[J]. 航天器环境工程, 2011, 28(6): 551-556. |
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作者姓名: | 马 寅 |
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作者单位: | 1.中国空间技术研究院 载人航天总体部 |
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摘 要: | 采用SRAM工艺的FPGA因其性能优异,在空间领域的应用受到重视;但是在空间环境中,SRAM型FPGA易受单粒子翻转的影响而导致逻辑故障或功能中断。文章提出对该类芯片的配置逻辑部分采用回读比较后刷新、对其BRAM部分采用通用自纠错宏的抗单粒子翻转(SEU)设计方案,在牺牲一定的器件性能的情况下,能达到较好的抗辐射效果。
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关 键 词: | 单粒子翻转 抗辐射加固 回读 刷新 块RAM 容错 |
收稿时间: | 2011-10-13 |
修稿时间: | 2011-11-23 |
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