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| 逻辑电平测试笔 | |
| 引用本文： | 丁士贤.逻辑电平测试笔[J].航空制造技术,1981(2). |
| 作者姓名： | 丁士贤 |
| 作者单位： | 一一三厂工艺科冷工艺室 |
| 摘 要： | 在数控机床、数显装置及带有集成元件的仪器、仪表维修中,总是要测试逻辑电路中高、低电平的输入、输出及其转换,从而判断故障的所在。以前,我们使用三用表或示波器来进行测试。但将这些仪表、仪器带到现场,工作很不方便。于是,我室参照有关资料试制成功适应于由TTL集成元件组成的逻辑电路电平测试笔,对逻辑电路中高、低电平的输入、输出及其转换进行测量,使用十分方便。逻辑电平测试笔的结构如图1所示。电路 |
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