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| 两种先进的材料分析仪 | |
| 引用本文： | 实言.两种先进的材料分析仪[J].航空维修与工程,2006(5):46-47. |
| 作者姓名： | 实言 |
| 摘 要： | 二次离子质谱仪 美国空军研究实验室新近购置了一台二次离子质谱仪系统(SIMS),安装在分析表面光谱仪实验室,为研究人员提供了先进的材料分析能力. |
Two Advanced Materials Analysis Instruments |
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| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |
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