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平板局部平面度检定的现状与展望
作者姓名:张泰昌
作者单位:北京市计量科学研究所!北京市,100029
摘    要:综述了各国平权局部平面度检定方法、成就与问题,指出该领域的检定发展方向。这对全面评价平板表面质量有指导意义。

关 键 词:局部平面度 技术指标 检定
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