| 一种双模互锁的容软错误静态锁存器 |
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| 引用本文： | 梁华国,黄正峰,王伟,詹文法.一种双模互锁的容软错误静态锁存器[J].宇航学报,2009,30(5). |
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| 作者姓名： | 梁华国 黄正峰 王伟 詹文法 |
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| 作者单位： | 1. 合肥工业大学计算机与信息学院,合肥,230009
2. 合肥工业大学计算机与信息学院,合肥,230009;中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室,北京,100190 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，教育部博士点基金，国家"863"高技术研究发展计划 |
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| 摘 要： | 针对太空环境下粒子辐射引发的软错误已经成为芯片失效的主导原因,提出一种容软错误锁存器结构--DIL-SET.该结构在内部构建基于C单元的双模互锁结构,针对单事件翻转进行防护.ISCAS-89标准电路在UMC 0.18μm 工艺下的实验表明,使用DIL-SET代替未经加固的静态锁存器,面积开销增加4.99%～53.47%,软错误率平均下降99%以上.
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| 关 键 词： | 软错误 双模互锁 单事件翻转 C单元 |
A Dual-Interlocked Static Latch Applied to Soft Error Tolerance |
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| LIANG Hua-guo,HUANG Zheng-feng,WANG Wei,ZHAN Wen-fa.A Dual-Interlocked Static Latch Applied to Soft Error Tolerance[J].Journal of Astronautics,2009,30(5). |
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| Authors: | LIANG Hua-guo HUANG Zheng-feng WANG Wei ZHAN Wen-fa |
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| Keywords: | |
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