| 一种IC测试系统的可靠性分析与改进设计 |
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| 引用本文： | 蔡仁钢,戴慈庄,涂泽中.一种IC测试系统的可靠性分析与改进设计[J].北京航空航天大学学报,1999,25(1):117-120. |
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| 作者姓名： | 蔡仁钢 戴慈庄 涂泽中 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学,工程系统工程系 |
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| 摘 要： | 美国ＧＲ系列ＩＣ测试系统采用磁带机作为系统程序的输入设备,由于磁带机故障率较高,因此使用中经常发生程序输入失败的现象,严重影响了该测试系统的可靠性,本文在对ＧＲ１７３２Ｍ型测试系统的组成结构进入深入分析的基础上,应用在线仿真器对主处理器进行实时仿真,跟踪了引导程序的执行流程和系统磁带的输入过程,提出了用ＰＣ微机代替磁带机,通过ＲＳ－２３２串行接口传送所有软件,本文详细阐述了改进设计方法,改进成功后
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| 关 键 词： | 集成电路 测量系统 可靠性 在线仿真 程序移植 |
| 修稿时间： | : 1997-04-14 |
IC Testing System Reliability Analysis and Improving Design |
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| Cai Rengang,Dai Cizhuang,Tu Zezhong.IC Testing System Reliability Analysis and Improving Design[J].Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics,1999,25(1):117-120. |
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| Authors: | Cai Rengang Dai Cizhuang Tu Zezhong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | integrated circuit measuring systems reliability emulation on line program transportation |
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