|
|||||
|
|
| 半电波暗室静区电磁兼容测试性能分析 | |
| 引用本文： | 陈文青,苏东林,蔡德荣,李健涛.半电波暗室静区电磁兼容测试性能分析[J].宇航计测技术,2007,27(5):22-25,36. |
| 作者姓名： | 陈文青 苏东林 蔡德荣 李健涛 |
| 作者单位： | 1. 北京航空航天大学电子信息工程学院,北京,100083;海军装备研究院信息工程技术研究所,北京,102249 2. 北京航空航天大学电子信息工程学院,北京,100083 3. 海军装备研究院信息工程技术研究所,北京,102249 |
| 摘 要： | 通过分析半电波暗室屏蔽层和吸波材料层两个决定半电波暗室静区特性的主要因素,解释了产生电磁兼容测试误差的主要原因,在此基础上总结了在半电波暗室进行电磁兼容测试的测试方法,对于评价暗室测试提供了新的思路。 |
| 关 键 词： | 半电波暗室 静区 电磁兼容 测试方法 |
| 文章编号： | 1000-7202(2007)05-0022-04 |
| 修稿时间： | 2007年8月5日 |
EMC Testing Performance Analysis for Quiet Zone in Semi-anechoic Chamber |
|
| CHEN Wen-qing,SU Dong-lin,CAI De-rong,LI Jian-tao.EMC Testing Performance Analysis for Quiet Zone in Semi-anechoic Chamber[J].Journal of Astronautic Metrology and Measurement,2007,27(5):22-25,36. | |
| Authors: | CHEN Wen-qing SU Dong-lin CAI De-rong LI Jian-tao |
| Abstract: | By analyzing shielded shell and absorber layer the important factors of Quiet zone performance of semi-anechoic chamber,the reasons for EMC testing error in semi-anechoic chamber were illustrated.Based on above conclusions,put forward an EMC testing method in semi-anechoic chamber.It is a new idea for evaluating EMC testing performance for semi-anechoic chamber. |
| Keywords: | Semi-anechoic chamber Quiet zone EMC Testing method |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |