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| 初始气孔率热老化试验研究与应用——预测固体推进剂贮存寿命的一种新方法 | |
| 引用本文： | 高鸣,蔡体敏.初始气孔率热老化试验研究与应用——预测固体推进剂贮存寿命的一种新方法[J].推进技术,1999,20(5):99-103. |
| 作者姓名： | 高鸣 蔡体敏 |
| 作者单位： | 西北工业大学航天工程学院!西安;710072;西北工业大学航天工程学院!西安;710072 |
| 摘 要： | 通过对固体推进剂药柱进行初始气孔率热老化试验研究，探讨了用累积损伤方法来预测药柱贮存寿命，提出了一种准确，经济，方便地提前预测药柱贮存的新方法和新技术。 |
| 关 键 词： | 固体推进剂 贮存寿命 热老化 试验 初始气孔率 |
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