| 提高微波晶体管S参数测量精确度的实用技术 |
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| 引用本文： | 刘凤莲.提高微波晶体管S参数测量精确度的实用技术[J].宇航计测技术,2003,23(1):26-30. |
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| 作者姓名： | 刘凤莲 |
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| 作者单位： | 北京微电子技术研究所,北京,100076 |
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| 摘 要： | 介绍了矢量网络分析仪测量微波晶体管S参数时的主要误差 ,给出了基于测试夹具校准件的制作方法和它的特性测量
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| 关 键 词： | 微波晶体管 +校准件制作 +系统误差校正 |
| 文章编号： | 1000-7202(2003)01-0026-05 |
| 修稿时间： | 2002年8月24日 |
A Practical Technology to Improve Measurement Accuracy of Microwave Transistor S-parameter |
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| LIU Fenglian.A Practical Technology to Improve Measurement Accuracy of Microwave Transistor S-parameter[J].Journal of Astronautic Metrology and Measurement,2003,23(1):26-30. |
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| Authors: | LIU Fenglian |
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| Institution: | Beijing Microelectronic Technology Institute 100076 |
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| Abstract: | Major error of measuring microwave transistor S-parameters by using vector network analyzer is presented, and making metrod and characteristics measurement of calibrating device based on the test fixture are given. |
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| Keywords: | Microwave transistor +Making of calirating device +System error calibration |
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