| RAM的故障模型及自测试算法 |
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| 引用本文： | 李璇君,辛季龄,张天宏,刘国刚. RAM的故障模型及自测试算法[J]. 南京航空航天大学学报, 1999, 31(1): 48-53 |
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| 作者姓名： | 李璇君 辛季龄 张天宏 刘国刚 |
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| 作者单位： | 南京航空航天大学动力工程系,南京,210016 |
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| 摘 要： | ![]()
通过对ＲＡＭ故障情况的全面、深入分析，建立了ＲＡＭ的功能故障模型。并在此基础上，提出一种全面、实用的故障自测试算法。该算法分三步完成测试：（１）测试ＲＡＭ中的固定为１（０）故障、固定开路故障、状态转换故障、数据保持故障及第一类耦合故障中的不相关耦合等故障；（２）测试第一类耦合故障中的相关耦合故障；（３）测试第二类耦合故障。对ＲＡＭ的故障注入试验验证了该算法的有效性。并将此算法应用于航空电子模拟器的ＢＩＴ（Ｂｕｉｌｔｉｎｔｅｓｔ）的设计中。
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| 关 键 词： | 故障检测 故障模型 耦合故障 自测试算法 故障注入 |
| 修稿时间： | 1998-05-25 |
Fault Model of RAM and Self-Detection Method |
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| Li Xuanjun,Xin Jiling,Zhang Tianhong,Liu Guogang. Fault Model of RAM and Self-Detection Method[J]. Journal of Nanjing University of Aeronautics & Astronautics, 1999, 31(1): 48-53 |
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| Authors: | Li Xuanjun Xin Jiling Zhang Tianhong Liu Guogang |
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| Abstract: | ![]()
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| Keywords: | fault detection fault model coupling fault self detection method fault injection |
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