RAM的故障模型及自测试算法

通过对ＲＡＭ故障情况的全面、深入分析,建立了ＲＡＭ的功能故障模型。并在此基础上,提出一种全面、实用的故障自测试算法。该算法分三步完成测试：（１）测试ＲＡＭ中的固定为１（０）故障、固定开路故障、状态转换故障、数据保持故障及第一类耦合故障中的不相关耦合等故障;（２）测试第一类耦合故障中的相关耦合故障;（３）测试第二类耦合故障。对ＲＡＭ的故障注入试验验证了该算法的有效性。并将此算法应用于航空电子模拟器的ＢＩＴ（Ｂｕｉｌｔｉｎｔｅｓｔ）的设计中。