微处理器测试器 |
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引用本文: | 徐家政.微处理器测试器[J].宇航计测技术,1984(3). |
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作者姓名: | 徐家政 |
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摘 要: | 目前,用微处理器控制的仪器越来越多。当仪器出了故障,首先要判断是哪个部份有问题?例如,对数字电压表而言,它可分为四个部份:1、微处理器,2、A/D转换器,3、数字电路,4、电源。由于μP对大多数人来说还不熟悉,检查起来较困难,所以一般先检查4、3、2这三部份。仪器一开机就受μp的控制,所以当μp有问题时,会使仪器出故障。用传统的测试仪来检测μp是很困难的。常用的μp检测方法有三种:1、时域分析,2、特征分析,3、联机仿真。有时需要几种方法结合起来进行检测。检测μp所使用的仪器有逻辑状态分析器,如HP公司的1600A;专用的μp测试仪,如FLUKE的
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