| 电子设备综合自动检测系统的设计 |
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| 引用本文： | 鞠建波,任献彬,张公学.电子设备综合自动检测系统的设计[J].宇航计测技术,2003,23(1):1-5. |
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| 作者姓名： | 鞠建波 任献彬 张公学 |
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| 作者单位： | 海军航空工程学院电子工程系,山东烟台,264001 |
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| 摘 要： | 简介了VXI总线技术 ,详细论述了基于该技术的电子设备综合自动测试系统的硬件平台和测控软件设计
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| 关 键 词： | 电子设备 VXI总线 自动测试系统 |
| 文章编号： | 1000-7202(2003)01-0001-05 |
| 修稿时间： | 2002年10月11 |
The Design of Integrated Automatic Test System for Electronic Equipment |
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| JU Jianbo,REN Xianbin,ZHANG Gongxue.The Design of Integrated Automatic Test System for Electronic Equipment[J].Journal of Astronautic Metrology and Measurement,2003,23(1):1-5. |
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| Authors: | JU Jianbo REN Xianbin ZHANG Gongxue |
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| Abstract: | The VXIbus technology is discussed in this paper. The hardware platform and testing software design of the automatic test control system of electronic equipment are introduced in detail. |
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| Keywords: | Electronic equipment VXIbus Automatic test system |
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