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单台电子系统可靠性增长模型与失效处理方法
引用本文:周厚明.单台电子系统可靠性增长模型与失效处理方法[J].航空标准化与质量,1999(2):0.
作者姓名:周厚明
作者单位:信息产业部第二十九研究所
摘    要:结合对×××机载电子系统实施可靠性增长的实践经验,论述了单台电子系统可靠性增长与试验的特点,所选择的增长模型,增长阶段目标值及增长试验时间的计算方法,以及失效处理的策略和方法。

关 键 词:可靠性增长  电子系统  模型  失效处理

Reliability Growth Mode and Methods for Failure Disposal of Individual Electronic System
Zhou Houming.Reliability Growth Mode and Methods for Failure Disposal of Individual Electronic System[J].Aeronautic Standardization & Quality,1999(2):0.
Authors:Zhou Houming
Abstract:
Keywords:
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