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| 氢对TC4钛合金电子束焊接头疲劳裂纹扩展速率的影响 | |
| 作者姓名： | 刘鹏涛 赵秀娟 刘昕 齐健 陈春焕 王亚军 任瑞铭 |
| 作者单位： | 1. 大连交通大学,材料科学与工程学院,辽宁,大连,116028 2. 北京航空制造工程研究所,北京,100024 |
| 摘 要： | 采用充氢CT试样对TC4钛合金电子束焊接头的室温疲劳裂纹扩展速率进行了测定,并对试样断口和接头各区显微组织进行了观察.试验结果表明:充氢母材试样在低速扩展区和失稳扩展区的da/dN相对于未充氢试样有明显的提高,但不同氢含量之间差别不大,在稳态扩展区(Paris区),氢对da/dN的影响很小.充氢焊缝试样在整个裂纹扩展过... |
| 关 键 词： | 氢 TC4钛合金 电子束焊 疲劳裂纹扩展速率 断口 |
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