摘 要: | ![](https://cache.aipub.cn/images/hkgcjz.ijournals.net.cn/html/hkgcjz/2023064/alternativeImage/f0c57912-0c92-4eaf-b4e4-3983da9f11e3-f001.jpg) 随着人们对电子产品可靠性的要求越来越高,利用失效物理方法识别产品潜在的薄弱点在产品设计中备受关注。基于失效物理理论,采用可靠性仿真分析方法,对电子程控器进行可靠性分析。通过建立电子程控器数字样机模型,开展相应的应力分析与故障预计,评估电子程控器可靠性指标平均首发故障时间(MTT?FF),并根据仿真分析发现的薄弱环节进行优化设计。结果表明:可靠性仿真结果与理论计算结果相差较小,可以作为型号可靠性指标评估的依据,减少采用物理样机进行可靠性试验的周期和费用;优化改进后的电子程控器其可靠性得到较大提升。本文研究可为后续型号可靠性评估与设计提供理论参考。
![](https://cache.aipub.cn/images/hkgcjz.ijournals.net.cn/html/hkgcjz/2023064/alternativeImage/f0c57912-0c92-4eaf-b4e4-3983da9f11e3-f002.jpg)
|