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碳化硅基直流固态断路器短路保护方法
引用本文:秦海鸿,莫玉斌,张英,等. 碳化硅基直流固态断路器短路保护方法[J]. 南京航空航天大学学报,2020,52(2):207⁃214.DOI:10.16356/j.1005-2615.2020.02.005
作者姓名:秦海鸿  莫玉斌  张英  杨跃茹  赵朝会
作者单位:1.南京航空航天大学自动化学院,南京,211106;2.上海电机学院电气学院,上海,201306
基金项目:国家自然科学基金 51677089;中央高校基本科研业务费专项资金 NS2015039 NS20160047;南京航空航天大学研究生创新基地(实验室)开放基金 kfjj20170308国家自然科学基金(51677089)资助项目;中央高校基本科研业务费专项资金(NS2015039,NS20160047)资助项目;南京航空航天大学研究生创新基地(实验室)开放基金(kfjj20170308)资助项目。
摘    要:碳化硅器件比硅器件具有更低的导通电阻,用其制作直流固态断路器可以大大降低其通态损耗,减轻散热压力。然而相比于硅器件,由于碳化硅器件管芯面积小,电流密度大,其短路能力相对较弱,短路保护要求更高。为确保碳化硅器件安全可靠工作,提高碳化硅基直流固态断路器的可靠性,对比分析了硅基与碳化硅基MOSFET的短路能力,揭示了其器件恶化机理,研究了栅源极电压箝位方法,并结合去饱和检测,提出了一种基于源极寄生电感的“软关断”短路保护方法,制作了直流固态断路器样机进行实验验证。实验结果表明,所提方法可以降低功率器件的关断电压应力、抑制短路电流,适合碳化硅基直流固态断路器短路保护。

关 键 词:碳化硅  直流固态断路器  短路能力  短路保护
收稿时间:2018-07-27
修稿时间:2019-09-16
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