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星载微波电路用高纯氧化铝基板的工艺适用性验证技术
作者姓名:王平  曲媛  高鸿  贾旭洲  何端鹏  刘泊天  于利夫  文明
作者单位:中国空间技术研究院西安分院,西安 710100,中国空间技术研究院西安分院,西安 710100,中国空间技术研究院,北京 100094,中国空间技术研究院西安分院,西安 710100,中国空间技术研究院,北京 100094,中国空间技术研究院,北京 100094,中国空间技术研究院,北京 100094,中国空间技术研究院,北京 100094
摘    要:
为了确保星载微波电路用高纯氧化铝基板的国产化可靠替代,本文通过全面分析星载产品用高纯氧化铝基板的工艺适用性验证需求,研究建立了星载微波电路用高纯氧化铝基板的工艺适用性验证指标体系,确定了验证试验项目,利用微波电路工艺件试验和组件产品环境适应性考核等试验验证手段,示范性地阐释了陶瓷基板类材料工艺适用性验证方法。
研究表明,基于验证需求分析确定验证项目,通过试验与工艺实践获得各类验证数据进行多维度综合评价,可以给出客观完整、科学有效的工艺适用性验证结论。


关 键 词:微波电路  高纯氧化铝基板  工艺适用性验证
收稿时间:2022-07-10
修稿时间:2023-03-13
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