吸枪检漏法的原理研究

航天器的单点漏率测试通常采用氦质谱吸枪检漏法,因此,该方法的合理性研究具有重要的工程意义。文章首次建立了吸枪检漏法的数学模型,并通过理论分析得到了被检件的漏率与检漏仪显示值的定量关系。其次,通过大量试验间接证明了该模型的正确性。最后,证明了氦质谱吸枪比对法的理论合理性。结果表明:用吸枪检漏法测单点的漏率具有较好的合理性,所得结论可以为吸枪法检漏的具体实施提供重要的理论依据。