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| 成败型产品可靠性鉴定试验探讨 | |
| 引用本文： | 林震,程永生,姜同敏,胡斌.成败型产品可靠性鉴定试验探讨[J].航空标准化与质量,2005(6):40-42. |
| 作者姓名： | 林震 程永生 姜同敏 胡斌 |
| 作者单位： | 1. 中国工程物理研究院电子工程研究所,四川,绵阳,621900 2. 北京航空航天大学可靠性研究所,北京,100083 |
| 摘 要： | 从应用角度出发,对成败型产品可靠性鉴定试验中的几个问题进行了探讨。 |
| 关 键 词： | 产品 可靠性 鉴定试验 |
| 文章编号： | 1003-6660(2005)06-0040-03 |
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