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| 铝电解电容在湿热环境下的贮存可靠性 | |
| 作者姓名： | 刘慧丛 邢 阳李卫平 朱立群 |
| 作者单位： | 北京航空航天大学材料科学与工程学院空天材料与服役教育部重点实验室,北京,100191 |
| 基金项目： | 中国航天科技集团公司航天科技创新基金 |
| 摘 要： | 针对电子设备中的铝电解电容在贮存环境下的失效问题,通过对铝电解电容进行湿热贮存试验,考察了湿热环境引起的铝电解电容外观状态和电性能的变化,并对试验中出现的失效现象进行了分析.结果表明,铝电解电容在湿热环境下出现了引脚腐蚀和橡胶塞长霉的失效现象;环境温度对铝电解电容贮存可靠性有重要影响,温度超过40℃引脚腐蚀速度会大大加快.温度在30℃适宜霉菌生长,温度超过30℃后没有长霉现象.阳极箔上的阳极氧化膜被腐蚀是铝电解电容在湿热环境下出现电容量和漏电流增大的原因. |
| 关 键 词： | 铝电解电容 湿热环境 贮存试验 失效 |
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