| 防静电KaPton二次表面镜的电子辐照效应 |
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| 作者姓名： | 刘宇明 姜利祥 冯伟泉 郑慧奇 丁义刚 沈自才 赵雪 赵春晴 刘国青 |
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| 作者单位： | 北京卫星环境工程研究所,北京,100094;北京卫星环境工程研究所,北京,100094;北京卫星环境工程研究所,北京,100094;北京卫星环境工程研究所,北京,100094;北京卫星环境工程研究所,北京,100094;北京卫星环境工程研究所,北京,100094;北京卫星环境工程研究所,北京,100094;北京卫星环境工程研究所,北京,100094;北京卫星环境工程研究所,北京,100094 |
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| 基金项目： | 国家863计划资助项目 |
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| 摘 要： | 文章研究防静电Kapton二次表面镜（ITO/Kapton/Al）在不同能量电子辐照后,太阳吸收比退化情况,并利用X射线光电子能谱仪（XPS）和扫描电子显微镜（SEM）对样品表面的成分和形貌进行了分析。结果表明,相同电子注量下,电子能量越高,对样品的太阳吸收率退化作用越大;电子辐照对样品表面形貌影响不大,但是会降低表面氧化铟锡的含量;不同能量的电子对样品表面成分的损伤效应是一致的。
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| 关 键 词： | 电子辐照 防静电Kapton二次表面镜 太阳吸收比 试验研究 |
| 收稿时间： | 2009-03-17 |
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