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| 用衰减全反射(ATR)研究金属薄膜的物理性质 | |
| 作者姓名： | 刘军民 陈敏 |
| 作者单位： | 南昌航空工业学院,测试技术与控制工程系,江西南昌,330034;南昌航空工业学院,测试技术与控制工程系,江西南昌,330034 |
| 摘 要： | 本文作者所设计的实验是利用光学中全反射衰减特性方法测量在介质上蒸镀的金属薄膜的厚度和各种频率下的复介电常数等物理性质,它可以精确测定１００～１０００范围内金属膜层的厚度和ε（ω）值,以及一些其它性质,是研究固体表面物理的一种有效的方法和技术。 |
| 关 键 词： | 衰减全反射 耦合共振 金属薄膜 表面物理 角度扫描 |
| 修稿时间： | 1999-01-26 |
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