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一种评价热红外涂层隐身效果的方法
引用本文:王博,王自荣,孙晓泉.一种评价热红外涂层隐身效果的方法[J].航天电子对抗,2004,33(1):63-64,F003.
作者姓名:王博  王自荣  孙晓泉
作者单位:电子工程学院322教研室,合肥,230037
摘    要:依据红外热成像系统最小可分辨温差 (MRTD)的关系式 ,推导了热红外隐身涂层的隐蔽系数 (SⅠ 、SⅡ 、SⅢ)和目标与背景的等效温差ΔTe 之间的关系 ,这对定量地描述热红外隐身涂层的隐身效果具有一定意义。

关 键 词:MRTD  隐蔽系数  等效温度
修稿时间:2003年5月19日
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