一种评价热红外涂层隐身效果的方法 |
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引用本文: | 王博,王自荣,孙晓泉.一种评价热红外涂层隐身效果的方法[J].航天电子对抗,2004,33(1):63-64,F003. |
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作者姓名: | 王博 王自荣 孙晓泉 |
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作者单位: | 电子工程学院322教研室,合肥,230037 |
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摘 要: | 依据红外热成像系统最小可分辨温差 (MRTD)的关系式 ,推导了热红外隐身涂层的隐蔽系数 (SⅠ 、SⅡ 、SⅢ)和目标与背景的等效温差ΔTe 之间的关系 ,这对定量地描述热红外隐身涂层的隐身效果具有一定意义。
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关 键 词: | MRTD 隐蔽系数 等效温度 |
修稿时间: | 2003年5月19日 |
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