首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

湿热环境下湿度对塑封器件贮存可靠性的影响
引用本文:刘慧丛,邢阳,李卫平,朱立群.湿热环境下湿度对塑封器件贮存可靠性的影响[J].北京航空航天大学学报,2010,36(9):1089-1093.
作者姓名:刘慧丛  邢阳  李卫平  朱立群
作者单位:北京航空航天大学,材料科学与工程学院,北京,100191;北京航空航天大学,材料科学与工程学院,北京,100191;北京航空航天大学,材料科学与工程学院,北京,100191;北京航空航天大学,材料科学与工程学院,北京,100191
摘    要:针对塑封电子器件在湿热环境下的贮存可靠性问题,通过湿热实验考察了湿热环境中的湿度因素对某型塑封器件贮存过程中的吸湿行为、封装表面状态以及电性能的影响.结果表明:环境湿度对塑封器件吸湿过程有显著影响,在同样的温度下相对湿度越高,器件的吸水速率越大,达到饱和时的饱和水汽含量也越大,而湿度对器件水汽吸收达到饱和时间的影响比较小,一般贮存300 h后水汽含量都达到饱和;塑封器件在湿热环境下贮存的主要失效模式是外引线腐蚀,且随着相对湿度增加腐蚀程度更加严重,分析认为器件封装过程中在外引线表面造成的断口、裂纹和针孔等缺陷处是腐蚀发生的敏感区;在贮存期内湿度对塑封器件的电性能影响不大.

关 键 词:塑封  电子元器件  湿度  湿热环境  贮存可靠性  腐蚀
收稿时间:2009-06-15

Effect of humidity on storage reliability of plastic encapsulated microcircuits devices in hygrothermal environment
Liu Huicong,Xing Yang,Li Weiping,Zhu Liqun.Effect of humidity on storage reliability of plastic encapsulated microcircuits devices in hygrothermal environment[J].Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics,2010,36(9):1089-1093.
Authors:Liu Huicong  Xing Yang  Li Weiping  Zhu Liqun
Institution:School of Materials Science and Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100191, China
Abstract:According to the storage reliability problems of plastic encapsulated microcircuits(PEM) devices in hygrothermal environment,effect of humidity on moisture absorption,surface estate and electrical performance of PEM was investigated through hygrothermal test.The results show that,humidity in the environment obviously affects moisture absorption process of PEM;Along with higher relative humidity at the same temperature,moisture absorption rate becomes bigger and moisture absorption content grows larger,but m...
Keywords:plastic encapsulation  electronic components  humidity  hygrothermal environment  storage reliability  corrosion
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《北京航空航天大学学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《北京航空航天大学学报》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号