| 基于BIT技术的运载火箭测试系统研究 |
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| 引用本文： | 梁晓朋,蔡远文,伯伟.基于BIT技术的运载火箭测试系统研究[J].航天控制,2010,28(6). |
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| 作者姓名： | 梁晓朋 蔡远文 伯伟 |
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| 摘 要： | BIT(Built-In Test)技术是一种能够显著改善系统或设备测试性能和诊断能力的重要技术手段.本文主要介绍了BIT技术的性能、特点、结构,分析了BIT技术在运载火箭测试中应用的意义和可行性,并详细提出了基于BIT技术的运载火箭测试方案以及方案中的关键技术和主要解决途径.研究结果表明此方案有效可行,并对其在航天测试中的应用给予了展望.
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| 关 键 词： | 机内测试(BIT) 运载火箭 测试系统 |
Research on Carrier Rocket Testing System Based on BIT Technology |
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| LIANG Xiaopeng,CAI Yuanwen,BO Wei.Research on Carrier Rocket Testing System Based on BIT Technology[J].Aerospace Control,2010,28(6). |
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| Authors: | LIANG Xiaopeng CAI Yuanwen BO Wei |
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